【参加募集】 第117回リレー講演会ご案内

Category: リレー講演会
【画像処理・光学分野】の講演会です。
ぜひ、ご参加ください。

■日時:2010年(平成22年)10月21日(木) 15:00~18:00
        終了後、交流会あり(参加費無料)
■場所:AREC(上田市産学官連携支援施設)4階

[講演1] 15:00~16:00
  演題 『画像処理による欠陥検査のための各種フィルタリングテクニック』
  講師:信州大学工学部 情報工学科 助教 白井 啓一郎 氏

[講演2] 16:00~17:00
  演題 『ディスプレイの色はどこまで鮮やかになればいいのか?』
  講師:セイコーエプソン株式会社 技術開発本部 コア技術開発センター 主任 金井 政史 氏
                           
[講演3] 17:00~18:00
  演題 『プリント配線板の外観検査について』
  講師:日置電機株式会社 技術本部 ATE部 技術8課長 松井 隆一 氏


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     ARECプラザ事務局 Tel:0268-21-4377
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     メール(mousikomi@arecplaza.jp)またはFAX(0268-21-4382)で
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